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OLEDs中CuPc缓冲层作用的AFM与XPS研究
缓冲层CuPc 原子力显微镜（AFM） X射线光电子能谱（XPS）
2007/12/18
摘要 利用AFM对CuPc/ITO样品表面进行扫描，发现其生长较均匀，基本上覆盖了ITO表面的缺陷，且针孔较少。通过样品表面和界面的XPS谱图分析，进一步证实了这一结果，同时发现，CuPc可以抑制ITO中的化学组分向空穴传输层的扩散。有利于器件的性能的改善和寿命的提高。