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基于Halcon的太阳能硅片缺陷检测
太阳能硅片 Halcon10.1 孔洞 脏污 断栅
2014/7/4
随着太阳硅片朝着高性能方向发展，对太阳能硅片表面质量检测提出了更高的要求。基于机器视觉软件Halcon10.1可对太阳能硅片缺陷进行可靠的快速检测。本文利用德国MVTec公司的视觉软件Halcon10.1，实现对太阳能硅片隐裂、孔洞、脏污、断栅等缺陷快速地检测出来。实验表明，利用该技术能够提高对太阳能硅片崩边、隐裂、断栅等缺陷检测效率。